JB/T 5580-1991 半导体集成电路 机电仪专用数字电路测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-16 18:59:44
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基本信息
标准名称: | 半导体集成电路 机电仪专用数字电路测试方法 |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路 |
替代情况: | ZB N23001-1988 |
发布部门: | 北京机械工业自动化所 |
发布日期: | 1991-07-16 |
实施日期: | 1992-07-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-20 |
归口单位: | 北京机械工业自动化所 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 8页 |
适用范围
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前言
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
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